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Casa /Prodotti/Camera di prova ambientale/Camera di prova dello shock termico di 3 zone per il semiconduttore

Camera di prova dello shock termico di 3 zone per il semiconduttore

1 insieme
MOQ
negotiable
prezzo
Camera di prova dello shock termico di 3 zone per il semiconduttore
Caratteristiche Galleria Descrizione di prodotto Richieda una citazione
Caratteristiche
Specificazioni
Dimensione interna: W400*H350*D350mm
Volume: 49L
intervallo di temperatura: -65~150C
Tempo di recupero di temperatura: Entro 5 minuti
Tempo di conversione: all'interno di 5S
precisione di controllo: +/-0,5°C
Applicazione: Semiconduttori
Tipo: un tipo di 3 zone
Evidenziare:

Camera di prova dello shock termico per il semiconduttore

,

camera di prova dello shock termico 3Zones

,

camera di prova ambientale 49L
Informazioni di base
Luogo di origine: La CINA
Marca: ASLI
Certificazione: CE, ISO
Numero di modello: TS-49-C
Termini di pagamento e spedizione
Imballaggi particolari: forte cassa del compensato dell'esportazione
Tempi di consegna: 30 giorni feriali
Termini di pagamento: T/T, Western Union
Capacità di alimentazione: 100 insiemi per quatar
Descrizione di prodotto
3 Zone Thermal Shock Test Chamber For Semiconductor is used to test the bearing extent of the material structures and composite material in an instant and continuous high temperature and extremely low temperature environment, cioè nel più breve tempo per testare la sua espansione termica e contrazione causata da cambiamenti chimici o danni fisici, che è ampiamente utilizzato in metallo, plastica, gomma,L'obiettivo è quello di migliorare la qualità dei prodotti..
 
Specificità
Modello
TS-49 ((A~C)
TS-80 ((A~C)
TS-150 ((A~C)
TS-252 ((A~C)
TS-450 ((A~C)
Dimensione interna WxHxD (mm)
400X350X350
500X400X400
600X500X500
700X600X600
800X750X750
Dimensione esterna WxHxD (mm)
1400X1800X1400
1550X1950X1550
1600X2000X1700
1700X2100X1750
1800X2200X1900
Intervallo di temperatura della zona di prova
Tipo A: -40 oC~+150 oC
(200°C è facoltativo)
Tipo B: -55 °C ~ + 150 °C
(200 ° C è facoltativo)
Tipo C: -65 °C ~ + 150 °C
(200°C è facoltativo)
Intervallo di temperatura elevata della zona di prova: +60oC~+150oC (200oC è facoltativo);
Intervallo di bassa temperatura della zona di prova: -10oC ~ -40oC / -55oC / -65oC
Tempo di esposizione ad alta/bassa temperatura
Tempo di esposizione ad alta temperatura: +60oC ~ +150oC (200oC è facoltativo) 30 minuti
Tempo di esposizione a bassa temperatura: -10oC~Tipo A: -40oC / Tipo B -55oC / Tipo C -65oC 30 minuti
Temperatura dello slot di accumulo del calore / tempo di riscaldamento
RT~200oC/Circa 45 minuti
Temperatura dello slot di raffreddamento / tempo di raffreddamento
RT ~- 75oC/ Circa 100 minuti
Tempo di recupero della temperatura / tempo di conversione
≤ 5 minuti/≤ 5 secondi
Precisione di controllo / Uniformità di distribuzione
± 0,5 °C/± 2 °C
Materiale interno ed esterno
Materiale della scatola interna è acciaio inossidabile SUS 304#, della scatola esterna è acciaio inossidabile o vedere acciaio laminato a freddo con vernice
rivestito.
Materiale isolante
Materiali isolanti resistenti alle alte temperature, ad alta densità, formato di cloro, schiuma di aceto etilico
Meccanica
P.I. D+S. S. R+ Sistema di controllo della temperatura bilanciata per microcomputer
Sistema di raffreddamento
Compressore semihermetico a due fasi (tipo raffreddato ad acqua) /
Compressore a due fasi ermetico (tipo raffreddato ad aria)
Dispositivi di protezione della sicurezza
Interruttore non a fusibile, interruttore di protezione ad alta e bassa pressione del compressore, interruttore di protezione ad alta pressione del frigorifero, guasto
sistema di allarme, allarme elettronico
Accessori
finestra di visualizzazione (ordine speciale)
Compressore
Marchio francese "Tecumseh", Germania Marchio Bizer
Potenza
AC380V 3 fasi 5 linee, 50/60Hz
Peso (circa)
450 kg
600 kg
750 kg
900 kg
1300 kg
Camera di prova dello shock termico di 3 zone per il semiconduttore 0

 

3 Zona Camera di prova per scosse termiche per la prova dei semiconduttori Specifica:
GB/T 2431.1-2001 Prova A: Metodo di prova a bassa temperatura
GB/T 2431.2-2001 Prova B: Metodo di prova ad alta temperatura
GJB 150.3-1986: Alta temperatura
GJB 150.4-1986: bassa temperatura
IEC 68-2-1 Prova A: freddo
IEC 68-2-2 Prova A: asciutto
GB 11158 Termine di prova ad alta e bassa temperatura
GB/T 2423.2 << Prova ambientale di base dei prodotti elettrici: B: metodo ad alta temperatura>>
 


Sistema di raffreddamento e controllo della temperatura:
1- modalità di funzionamento: selezione delle dimensioni per il modello della macchina; cascata di refrigerazione meccanica; raffreddamento ad aria.
2Compressori di refrigerazione: Compressori ermetici o semihermetici a bassa efficienza importati.

3Evaporatore: evaporatore automatico a regolazione della capacità di carico a più fasi di tipo a pinna.
4. Condensatore: condensatore di dissipazione del calore con conchiglia e tubo.
5- Espansione del sistema: finalità di controllo della capacità del sistema di refrigerazione
6Scambiatore di calore raffreddato: fabbricato a Taiwan in acciaio inossidabile ad alta efficienza.
7. modalità di controllo della macchina raffreddata: il controller del sistema di controllo regola automaticamente le condizioni di funzionamento raffreddate in base alle condizioni di prova rispetto al progetto tradizionale,Controllare la stabilità e la riproducibilità dell'alta potenza e raggiungere l'efficacia- Circuito di raffreddamento del compressore d'aria di ritorno.
8. tubi di refrigerazione e di refrigerazione: R22, R-23, R404A, Protezione dell'ambiente; indici sono zero degrado dell'ozono tubi di refrigerazione hanno funzione di scongelamento automatico e manuale
Imballaggio e consegna
Camera di prova dello shock termico di 3 zone per il semiconduttore 1
Esportare cassa di compensato gratuitamente
Profilo aziendale
Camera di prova dello shock termico di 3 zone per il semiconduttore 2
ASLI Company, un produttore leader di attrezzature per test di laboratorio in Cina.siamo orgogliosi dei nostri prodotti e servizi di alta qualità che hanno conquistato la fiducia dei nostri clienti in tutto il mondo.

Qui di seguito le attrezzature che forniamo:
Camera di prova di temperatura e umidità
Camera di prova per scosse termiche di zona 3
Campione di prova PCT/HAST per l'invecchiamento
Forno ad alta temperatura
Scattivo a vibrazione ad alta frequenza
Macchina di prova di caduta
Tavola di prova di impatto meccanico
Camera di prova con spruzzo di sale
- Sì, signore.

Siamo impegnati a fornire ai nostri clienti le migliori attrezzature che soddisfano gli standard e le specifiche internazionali.Il nostro team di esperti garantisce che i nostri prodotti siano sottoposti a rigorosi processi di controllo e controllo per garantire la loro durata, affidabilità ed efficienza.
 
 
Se avete qualche dubbio o bisogno circa 3 Zone Thermal Shock Test Chamber per semiconduttori, per favore non esitate a inviare la vostra richiesta.
Prodotto Tag:

Camera di prova di umidità di temperatura

Camera di umidità di temperatura

camera di umidità e di temperatura

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